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----  [分享]使用MATS-2010SD测量低Hc材料的方法  (http://bbs.linkjoin.cn/dispbbs.asp?boardid=6&id=242)
--  作者：zyh19681013
--  发布时间：2009/1/13 17:38:00
--  [分享]使用MATS-2010SD测量低Hc材料的方法
 

    低Hc软磁样品，Hs加到8A/m就已经饱和了，如果要测试800A/m条件下的磁滞回线，又要保证抵磁场下的细节不丢失，最好采用人工指定每一个测试点的磁场，才能满足测试的要求，具体方法为：

1、  测试点个数设定为60，Hi=0.08，H2=0.16

测试点

Hi(A/m)

H2(A/m)

H3(A/m)

…

H50(A/m)

…

Hs(A/m)

60

0.08

0.16

0.24

…

4

…

800


2、  将鼠标指针移动到[测试]后，出现[设定]按纽，点击[设定]按纽，使H2后面的测试点按Hi和H2后面的间距依次设置。


3、  如在4A/m处材料接近饱和区，对4A/m以后的点采用手工设置间距，如按以下方法设置：

H50

H51

H52

H53

H54

H55

H56

H57

H58

H59

H60

4

6

8

10

20

40

80

200

400

600

800
--  作者：天马
--  发布时间：2009/1/16 10:20:00
--  
一般情况下，测试条件中不用指定测试点个数（输入0，表示测试点由软件自动指定），只要指定起始磁场Hi，最大磁场Hs和磁感步长dB就能完成测试。对于一些起始区磁感变化特别快，或者剩磁和矫顽力附近磁感变化快的材料，可以通过指定一个参数Hj来保证变化快的区域多测试一些点，Hj的数值应该位于变化快的区域的中间比较合适。如果一个Hj不能覆盖所有的磁感变化快的区域，就只能手工来指定测试点了。就像上面帖子所示例的情况。
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