测量磁粉过程中的一些发现和分析:
测量采用的方法是抛移J线圈的方法,整个过程如下:
1、 采用脉冲磁场对材料进行饱和充磁;
2、 将磁体放入电磁铁内,保证磁体极性与励磁磁场一致;
3、 磁通计清零,启动测试程序,将测试用的J线圈套入磁体,并将极头摇下,使极面与磁体很好接触,这时磁通计上得到的磁通?为磁体对J线圈有效匝数的作用,除以磁体的面积和匝数得到准剩磁点Jr'(Br');
4、 再对磁体施加正向磁场(一般我们施加到过材料的Hcj,也有只施加到Hcj的5%);
5、 再对正向磁场慢慢回到零,此时磁通计通过J线圈测量的磁通,同样除以线圈的有效匝数和磁体的横截面积就是我们需要的Jr(Br);
6、 回零后,改变磁场方向,对磁体进行反向退磁,直到超过材料的Hcj,我们软件中如果选择了自动,则不对磁体再进行方向更大的退磁磁场处理,大约只施加过Hcj点10%后就再次回零;
7、 将极头摇上,将线圈从磁体上移除,整个测试过程完成。
我选择通过对整个过程的?i,Hi的实时采样,可以得到整过过程的?-H曲线,再进过上面说的简单换算就可以得到J-H曲线,取二相限得J-H退磁曲线。
B-H退磁曲线是通过公式:J = B + μ0H进行逐点换算的,这里的H磁场为施加的激励磁场。
在J线圈没有完全进行补偿的情况下(J线圈为内外两个总面积相同,绕制方向相反,线圈匝数不同的线圈),内外线圈的差就是有效匝数;内外线圈的总面积差就是线圈残匝面积,理想情况下残匝面积做到零。
在不能很好的将线圈残匝面积做到零的情况下,可以通过软件对数据进行补偿,具体为:将所采集的磁通量数据减去相应由于残匝面积S添入的励磁磁场对它的贡献,即Hi×S,得到准确的测量结果,另外在整过测试过程中,软件还对磁通计的漂移进行了跟踪(也就是将线圈清零套入磁钢到最后将线圈抛移出来,其中磁通的变化量),对测试磁通进行修正。对于测量磁体,我们软件就是按上面的方法进行的。
对于测试粉末,我认为采用BH永磁测量设备测量压制的粉末材料只能是一种有效的比对检验手段,一般是通过对同密度的磁体进行测试,再对数据进行修正得到的一个测试数据。
在测试过程中,Hcj指标是基本准确的,不需要进行修正,Jr和Br也只需要对磁体的实际有效密度进行简单的换算就可以(直接乘以换算密度比),也就是测量过程中的Br和Hcj可以很好的确定。但在对粉末进行磁场反向励磁时,由于粉末的部分机械翻转,会对所采样的磁通量的真实性有一定的影响,需要进行修正。理论上讲,粉末压的越紧,测试误差越小,同时这个现象对磁通数据的贡献是一个负值,会使得材料的退磁曲线向下移动。也就造成了测试数据中Hk变小,方形度下降,Bhmax变小的现象。这时候采用修改残匝面积S,使得将每点的磁通测试数据增加Hi×△S强行拉起,达到测试比对效果。同时我认为,这个残匝面积S所增加的△S也不可能是一个固定的常数,可能是材料密度越大,所增加的△S越小,所以要固定测量,要保证密度的一致性为最好。
[此贴子已经被作者于2009-4-15 16:00:13编辑过]